抽絲剝繭，詳細介紹金屬射線探傷的原理

理論上，X射線或γ射線透照或透視用於檢查金屬成品和半成品中的內部宏觀缺陷，統稱為射線探傷檢測。這種方法用於金屬零件檢測內部缺陷，主要是在使用光線透過零件後，光線的強度會不同程度地減弱。根據弱化情況，可以判斷缺陷的位置，形狀，大小和嚴重程度。

X射線和γ射線，如可見光和無線電波一樣，屬於電磁波。它們基本相同，具有相同的傳播速度，但具有不同的頻率和波長，並且射線的波長短且頻率高。 X射線由特殊型別的X射線管產生。從陰極燈絲髮射的高速電子撞擊在陽極靶上，並且一些電子在核場中被急劇阻擋，導致內部電子轉變以產生x射線。 γ射線由放射性同位素（例如鈷60，銥192，銫137，銩170等）產生。放射性同位素是一種不穩定的同位素。它處於激發狀態，其原子核的能級高於基準能級。在釋放y射線的同時改變基準水平。

X射線和Y射線都具有穿透物質的能力。較大的能量（較短波長）射線在穿透材料時吸收較少，稱為硬輻射（或硬射線）；具有較小能量（較長波長）的光在穿透物質時被更多地吸收，稱為軟輻射（或軟射線），X射線通常屬於硬射線範圍。射線穿透物質時的能量損失稱為能量衰減。能量的衰減主要是光電子的形成（光電效應）和射線能量的吸收，其次是彈性碰撞（所謂的湯姆遜效應）和非彈性碰撞（即康普頓）和散射引起的射線能量的吸收。除了形成電子對外，還能吸收射線的能量。

射線探傷就是利用射線透過物質被不同程度的吸收這一原理， 來檢驗金屬製件中的缺陷的。 探傷過程可以用下圖 來簡要地加以說明。

圖中 1為射線源， 2為被檢驗物體，3 為物體內缺陷（氣孔），4 為照相底片，5為透照到底片上的射線的強度或感光並沖洗後底片的黑度。 顯然， 被檢驗物體中的缺陷的型別、 形狀、 大小和部位等，可以從底片上的影子加以判別。

需要提出的是，在射線探傷工作中，主要是利用物質對射線的吸收這一效能。 物質對射線的散射，對探傷工作不僅無益，反而有不利的影響。